微处理器功能测试系统MFTS

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微处理器功能测试系统MFTS

常兵;郑守淇;梁垚

【期刊名称】《微电子学与计算机》 【年(卷),期】1989(6)6

【摘 要】本文介绍微处理器功能测试系统MFTS的总体结构和工作原理,该系统采用一种无故障模型,测试序列灵活多变,因而故障覆盖率也是可变的,非确定性功能测试方法。

【总页数】4页(P43-46)

【关键词】微处理器;功能测试系统;MFTS 【作 者】常兵;郑守淇;梁垚 【作者单位】西安交通大学 【正文语种】中 文 【中图分类】TP368.106 【相关文献】

1.微处理器系统功能测试 [J], 张峰;王家礼;方葛丰

2.基于边界扫描的微处理器功能测试算法 [J], 邱峰;孟汉城;梁松海 3.用于微处理器功能测试的最小指令集测试法 [J], 范卫东;王鸿宾 4.微处理器控制器的功能测试 [J], 宋琦;龚茂康 5.基于规范化描述的微处理器功能测试 [J], 龚茂康;宋琦

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